存储器芯片是几乎每个电子设备的核心组件。存储器芯片通常被分类为易失性存储器和非易失性存储器，其中易失性存储器在电源循环中断时保留其存储的信息，而非易失性存储器需要持续的电源供应以保留其数据。大多数存储模块都具有标准化格式，可以使用标准化测试引脚进行测试。CCP为所有常见格式（DDR、Flash、eMCP等）提供测试解决方案，以及针对您个性化需求的定制测试解决方案。
DDR2/3治具
DDR3/4治具
eMcp治具
| 材料 | 注塑成型: PE |
| 规格 | 最小间距: 0.4mm |
手动DDR2/3测试模块規格
手动DDR2/3测试模块規格
单面
手动DDR3测试模块規格
双面
| Max. Site 数量 | 8至16（单面/双面） |
| 传输速率 (MT/s) | 200MHz 至 1866MHz |
