凯尔文接触”一词源于英国物理学家开尔文勋爵，他于1861年发明了开尔文电桥。开尔文电桥用于测量1欧姆以下的未知电阻器，是维斯通电桥的一种改进。CCP的开开尔文接点测试解决方案使用其中一个引脚测量电流，而另一个引脚则调整所施加的电压。与我们所有的产品一样，我们的工程师将根据您的具体需求调整产品。
开尔文接点
开尔文连接通常用于测试特殊电信号或在测试期间作为电流旁路的路径。CCP 开发了多种类型的引脚以满足市场需求。
引脚之间的间隙可以从 70um 到 100um 中选择。可以与球/垫高度准确地接触。
不同类型的尖端形状适用于各种应用
叶片类型
阶梯式
半月型
皇冠型
叶片类型：开尔文连接的典型尖端形状
阶梯式：类似刀片式但定位更准确
半月型：常用于QFN和QFP
皇冠型：由于每个爪子都准确地戳入检查区域，因此在制造插座或插入插针时无需考虑方向。
开尔文治具规格
| 集成电路类型 | QFN、QFP、BGA |
| 集成电路尺寸 | 2x2~20x20mm2 |
| 最小间距 | 0.30mm |
| 产品寿命（针） | >200,000 |
